在线咨询
电话咨询
留言板咨询
销售热线:
010-82900415(北京)
产品中心
激光器
光谱仪
光纤光谱仪/小型光谱仪
飞秒瞬态光谱系统
纳秒瞬态吸收/闪光光解光谱仪
X射线光谱仪
显微分光光度计
拉曼光谱仪
真空紫外光谱仪
极紫外光谱仪
中红外光谱仪
2D光谱仪
飞秒微纳加工工作站
成像相机
多光子显微镜
太赫兹
光电测量
光源
光学件
hardLIGHT TXS 型 HHG光谱仪、X射线光谱仪
hardLIGHT TXS 型 HHG光谱仪、X射线光谱仪
德国HP SPECTROSCOPY
hardLIGHT TXS
留言咨询>>

结构特征

•  新型的TXS光谱仪可在HHG光束(高频光束)、X射线自由电子激光器和台式X射线激光器上进行准确的光子诊断。(HHG beamlines, X-ray freeelectron lasers, and table-top X-ray lasers)

•  对 X 射线光谱进行指纹识别以进行在线光束表征,透射光束保持不受干扰,透射率大于 90%,以便进一步用于实验。(In von Hamos geometry with high-efficiency backscattering)。

•  单次可测量2 keV 和 4 keV 之间的光子能量。

•  通过简单地将反向散射探针与材料样品交换,hardLIGHT TXS即可用于X射线发射光谱测量(XES)。

•  软X射线范围提供了对许多材料的化学状态的高灵敏度通道,例如,在2kV下对硫的研究为电池研究提供了重要的参考。

TXS06.jpg

性能曲线

image.png

X-ray absorption spectroscopy (XAS) at the sulfur K-edge (data courtesy of Dr. W. Malzer, TU Berlin)


产品特点

image.png