产品中心
enVISTA作为目前最领先的TA光谱系统，可通过最少的训练，为公共实验室，多学科研究小组、本科生及研究生实验室提供完美的性能配置。
enVISTA是一个真正的一体化one box平台，通过简单的紫外-可见稳态吸收测量，重新定义了紫外/可见TA光谱。我们正在应用的专利噪声消除技术使TA光谱记录的最低检测限(100 ΔnO.D.)具有完整的2D波长和时间分辨率。
除了TA光谱，enVISTA还可以用于时间分辨光致发光光谱，具有高达5ns的时间响应，也可用于紫外/可见光谱区域的稳态吸收测量。
突出优势：
•前所未有的100个ΔnO.D检出限
•一个盒子，用户友好的交钥匙系统，有能力搭配额外的外部激光光源使用
•没有特殊的实验室要求-可在任何实验室工作台或桌子上操作
•支持透射和反射探测光几何图形
•单发激光记录全时间轴，实现快速信号采集;采用自动或用户定义的频率采样全2D频率时间数据
•时间分辨吸收光谱，响应时间≥5ns，延迟时间可达毫秒。探针波长范围可达紫外-可见
•时间分辨光致发光光谱，响应时间≥5ns，延迟时间可达毫秒
•稳态吸收光谱法 (如紫外/可见吸收光谱)
我们集成于一体的系统，包括所有的动力学结果:
探测光源
激发激光
所有光学部件
大尺寸和小尺寸的模块化样品室
所有电子产品
检测系统
机载电脑
分析及自动化软件
产品主要规格：
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EnVISTATM |
参数 |
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光谱范围 |
300-1050nm或800-1650nm |
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光谱精度 |
1-10nm 自动控制 |
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激发源波长 |
内置Nd:YAG脉冲激光（1064、532、355、266或双波长355/532nm） 可兼容宽波段外置激光 |
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内置激光频率 |
0.2~15kHz （1064nm或532nm） 0.2~6kHz （532nm 及355nm双波长） 0.2~10kHz （266nm） |
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时间精度 |
5ns |
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时间窗口 |
可至4ms(标准状态) 频率小于200Hz时，可提供更长时间窗口 |
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可变位分辨率和采样率 |
8-bit （2ns/point） 12-bit （4ns/point） 1-bit （8ns/point） |
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检测极限（单波长） |
10-7 Δ吸光度（1小时） 10-6 Δ吸光度（1分钟） |
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仪器控制 |
自动时间和频率采样控制； 自动内置vs外置激发激光源设置； 自动激发源频率控制。 探测精度与激发源脉冲能量手动控制 |
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数据采集 |
单脉冲的全时轴记录可实现快速数据采集。用户自定义的完整2D频率时间数据的频率采样 |
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样品室 |
25.4cm*25.4cm 使用插入式附件在泵浦/探测样品几何结构之间轻松切换 能够兼容包括冷冻切片机和流通池等多种样品架 |
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机载计算器 |
含显卡、16GB RAM、1TB SSD用于实时数据收集分析的高端电脑 |
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软件 |
用于用户友好的仪器控制和数据采集的专有软件 |
应用
•电子材料中的电荷捕获和重组
•生物材料动力学
•化学反应…还有更多