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美国Magnitude Instruments
enVISTA
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enVISTA作为目前最领先的TA光谱系统,可通过最少的训练,为公共实验室,多学科研究小组、本科生及研究生实验室提供完美的性能配置。

enVISTA是一个真正的一体化one box平台,通过简单的紫外-可见稳态吸收测量,重新定义了紫外/可见TA光谱。我们正在应用的专利噪声消除技术使TA光谱记录的最低检测限(100 ΔnO.D.)具有完整的2D波长和时间分辨率。

除了TA光谱,enVISTA还可以用于时间分辨光致发光光谱,具有高达5ns的时间响应,也可用于紫外/可见光谱区域的稳态吸收测量。

enVISTA-1A_PRINT.jpg

突出优势:

•前所未有的100个ΔnO.D检出限

•一个盒子,用户友好的交钥匙系统,有能力搭配额外的外部激光光源使用

•没有特殊的实验室要求-可在任何实验室工作台或桌子上操作

•支持透射和反射探测光几何图形

•单发激光记录全时间轴,实现快速信号采集;采用自动或用户定义的频率采样全2D频率时间数据

•时间分辨吸收光谱,响应时间≥5ns,延迟时间可达毫秒。探针波长范围可达紫外-可见

•时间分辨光致发光光谱,响应时间≥5ns,延迟时间可达毫秒

•稳态吸收光谱法 (如紫外/可见吸收光谱)


我们集成于一体的系统,包括所有的动力学结果:

探测光源

激发激光

所有光学部件

大尺寸和小尺寸的模块化样品室

所有电子产品

检测系统

机载电脑

分析及自动化软件


产品主要规格:

EnVISTATM

参数

探测波长范围

300-1050nm

探测波长精度

1-10nm (建议5nm )

激发源波长

内置Nd:YAG脉冲激光(1064、532、355、266)

可兼容宽波段外置激光

内置激光频率

0.2~15kHz (1064nm或532nm)

0.2~6kHz  (532nm 及355nm双波长)

0.2~10kHz (266nm)

时间精度

5ns

时间窗口

可至4ms(标准状态)

频率小于200Hz时,可提供更长时间窗口

可变位分辨率和采样率

8-bit  (2ns/point)

12-bit (4ns/point)

1-bit  (8ns/point)

检测极限(单波长)

10-7 Δ吸光度(1小时)

10-6 Δ吸光度(1分钟)

仪器控制

自动时间和频率采样控制;

自动内置vs外置激发激光源设置;

自动激发源频率控制。

探测精度与激发源脉冲能量手动控制

数据采集

单脉冲的全时轴记录可实现快速数据采集。用户自定义的完整2D频率时间数据的频率采样

样品室

25.4cm*25.4cm

使用插入式附件在泵浦/探测样品几何结构之间轻松切换

能够兼容包括冷冻切片机和流通池等多种样品架

机载计算器

含显卡、16GB RAM、1TB SSD用于实时数据收集分析的高端电脑

软件

用于用户友好的仪器控制和数据采集的专有软件


应用

•电子材料中的电荷捕获和重组

•生物材料动力学

•化学反应…还有更多