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highLIGHT 高分辨XUV / SXR 光谱仪
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德国HP SPECTROSCOPY
highLIGHT
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  • 显著优势:
  • 光谱仪特征:Flat-field grazing-incidence spectrograph;
  • 灵活选择探测器:Flexible choice of detectors: x-ray CCD-camera or MCP/low-noise CMOS camera system
  • 支持模块化设计匹配不同的实验场景。
  • 狭缝对于信噪比的优化:狭缝的特殊支持和可变的滤波单元。

特点

  • l  平场掠入射光谱仪

  • l  波长范围:极紫外(XUV)光栅 5~90nm,软X射线(SXR)光栅1~20nm

  • l  探测器的灵活选择:X射线CCD摄像机或 MCP / 低噪声CMOS摄像机系统

  • l  工作压力<10-6mbar,可选配用于独立真空操作的无油泵系统

  • l  可根据用户要求定制







产品规格参数



SXR+光栅

SXR 光栅

XUV 光栅

波长nm

1-5

1-20

5-90

操作模式

狭缝

无缝

无缝

光源距离m

灵活

灵活

灵活

波长nm

1-5

1-10

5-20

5-30

25-60

30-90

平面场尺寸nm

60

90

90

90

85

110

色散nm/mm

0.06

0.07-0.15

0.11-0.21

0.23-0.38

0.33-0.52

0.38-0.68

分辨率nm

<0.001

<0.005

<0.008

<0.015

<0.021

<0.026

* 其他配置(光谱范围,狭缝操作等等)可根据要求提供



下图用highLIGHT SXR+在2.88nm(430eV,过渡1s2-1s2p)处对nitrogen谱线进行发射光谱测量。半高全宽是CCD相机的1.74像素(13μm像素大小),分辨率为1890。受探测器限制的分辨力是3290。(数据由德国哥廷根激光实验室的K. Mann 博士提供)

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