产品概述

20/30 XL显微分光光度计的设计允许您测量具有微观特征的大尺度样品的光谱，图像，和薄膜厚度。“XL”代表“超大”，具有微观特征的大尺度样品是20/30 XL的样本类型。为满足您的需求，20/30 XL集成了光学、电子、光谱学和软件方面的最新技术，以无与伦比的速度和能力提供卓越的性能。甚至CRAIC仪器的易用性得到了极大的改进，使其成为紫外-可见-近红外显微光谱学的佼佼者。

20/30 XL显微分光光度计允许您测量UV-visible-NIR范围内的透射，吸光度，反射率，发射和光致发光微光谱的特征，样品尺寸小于一微米的跨度。然而，根据仪器的配置，样品的大小基本上可以是无限的。现在你可以在最大的平板显示器像素内绘制颜色变化，轻松测量300mm晶圆的薄膜厚度，或测量最大艺术品的荧光。

同时，20/30 XL也可提供拉曼显微光谱，高分辨率紫外显微光谱，甚至近红外显微镜光谱的测量。
20/30 XL显微分光光度计使用简单，提供无损测量和无与伦比的光谱数据。

主要特性

大样品的UV-visible-NIR, Raman和PL微光谱

•  大尺寸样品的显微分析

•  光谱范围：200-2500nm

•  紫外-可见-近红外透射显微光谱

•  紫外-可见-近红外透射成像

•  紫外-可见-近红外反射显微光谱

•  紫外-可见-近红外反射成像

•  紫外-可见-近红外荧光显微光谱

•  紫外-可见-近红外荧光显微成像

•  拉曼显微光谱

•  紫外-可见-近红外范围内的偏振显微光谱

•  紫外-可见-近红外范围内的偏振微区成像

•  薄膜厚度测量

•  微观样品的色度测量

•  手动或全自动操作

•  配备Lightblades技术

•  集成TE制冷阵列探测器以提供超低噪声和长期稳定性

•  样品温度的精确控制

•  对样品上小于一微米区域的校准和变量测量

•  同时使用目镜和数字成像的卓越成像功能

•  搭配Lambdafire光谱，成像控制及分析软件。Lambdafire同时包括触摸屏控制

•  专业的软件模块，包括统计分析，光谱数据库，成像分析等

•  易于使用和维护

•  来源于显微光谱领域专家

紫外-可见-近红外显微光谱

该仪器是一个完全集成的显微光谱单元，光谱范围包括从紫外到可见到近红外。可同时对采样孔径和样品直接成像从而进行快速精确的测量。20/30XL搭载Lightblades技术，即便尺寸在亚微米样品的透射，反射，偏振，荧光光谱也能测量。CRAIC Technologies也是美国国家标准技术研究所（NIST）可追溯分光光度计标准唯一认可的来源。

拉曼显微分光光度计

灵活的拉曼显微分光光度计

当装配上CRAIC Apollo拉曼光谱仪模块时，20/30XL就具备了拉曼功能，能够对显微样品进行拉曼测量，共振拉曼测量，以及其它类型的测量。模块包括激光器，拉曼光谱仪以及能够收集样品的高质量拉曼光谱的光学接口。

荧光

高灵敏度发射显微光谱&成像

对20/30XL进行一定配置，可获得显微样品的荧光和冷光光谱和成像。搭载Lightblades技术，光谱范围扩展到从深紫外到近红外，并且能够在同一光谱范围测量发射光谱，因此，20/30XL是材料科学，生物，地理等学等学科中测量显微荧光的有力工具。

紫外-可见-近红外偏振光的显微光谱&成像

对20/30XL进行一定配置，即便是最小的样品，也能获得其偏振光谱和成像。搭载Lightblades技术以及从深紫外到近红外光谱范围使得20/30XL成为性能无可匹敌的偏振显微分光光度计。具有双折射或其他类型偏振特性的样品通过这个精良的系统可以快速便捷的获得其光谱和成像。

光谱表面绘图

结合硬件和软件对具有微观空间分辨率的样品进行自动光谱分析，可生成样品的吸收，透射，反射，荧光，发射和拉曼光谱的3D绘图。

紫外-可见-近红外卓越的成像质量

20/30XL包括了一个独特的配有科研级光学器件的紫外-可见-近红外显微镜。可在紫外-可见-近红外区域进行高分辨数字成像。20/30XL拥有精良的图像处理软件。这使得20/30XL在进行透射，反射，偏振和荧光显微检测的时候，能够快速便捷的实时观测和捕捉图像。

应用

•  半导体膜厚

•  MEMS器件

•  太阳能光伏板

•  平板显示器的比色法

•  平面显示器的强度Mapping

•  显微光谱的问题文件

•  Microspectra艺术作品

•  或任何其他大规模样品…

支持

CRAIC Technologies为全球的CRAIC设备提供服务和支持。CRAIC Technologies服务工程师对CRAIC Technologies产品提供全方位的设备修理，维护，培训和技术支持。